В конце июня 2026 г. состоялся интенсивный курс «Статистические методы контроля качества и управления процессами». Обучение провела ведущий эксперт в области статистических методов, бизнес-тренер Л.В. Касторская.
Участники освоили полный цикл работы с данными: от построения и анализа графиков, диаграмм Исикавы и Парето до оценки индексов возможностей процессов (Cp, Cpk, Pp, Ppk), применения контрольных карт Шухарта и проведения анализа измерительных систем.
Программа была выстроена от фундаментальных основ – концепций Шухарта и «вирусной теории» менеджмента – до прикладных инструментов, которые можно применять в повседневной практике.
Особый акцент был сделан на рассмотрение насущных вопросов производства:
- Какие выводы, используя простые методы анализа, можно сделать на основе данных из производства?
- Для решения каких задач в производственных процессах какие методы следует применять?
- Как прогнозировать уровень дефектов по небольшому количеству данных (чтобы «хорошая выборка из партии» не вводила в заблуждение)?
- Как и для чего применять статистическое управление процессами (SPC)?
- Всегда ли надежны измерения – как проверить?
- Какие факторы влияют на качество результатов измерений?
- Кто должен проводить статистический анализ данных из производственного процесса и анализ измерительных систем?
Также был рассмотрен один из процессов и подобраны методы для его анализа.
Отзывы и результат:
Участники обучения высоко оценили структурированность и доступность изложения, а также практическую направленность каждого модуля, живой разбор инструментов анализа на примерах, приближенных к реальным задачам.
Внедрение полученных навыков позволит команде быстрее выявлять корневые причины отклонений и принимать управленческие решения, основанные на точных данных.
Подробнее о программе.
Тренинг доступен как корпоративном формате, так и в формате открытых курсов.
Актуальное расписание здесь.
Книги и статьи по теме
- Руководство Статистическое управление процессами SPC»
- Пора заняться техпроцессом. У Вас проблемы в производстве? / Розно М.И., Касторская Л.В.
- SPC 2026: Новый подход к статистическому управлению процессами
- Л.В. Касторская, А.Н. Усольцев, Е.В. Чуклина. Управление процессами — качество на системном уровне
- М.Б. Рыжков, Е.В. Чуклина. Система статистического управления процессами
- Л.В. Касторская, М.И. Розно, Е.В. Чуклина. Контрольные карты Шухарта: «дьявол кроется в мелочах»!
- В.В. Шашков, М.Б. Рыжков, А.Н. Грачев. Как и зачем улучшать процессы, если в них «все хорошо»? Часть 1. Анализ и совершенствование измерительной системы
- В.В. Шашков, М.Б. Рыжков, А.Н. Грачев. Как и зачем улучшать процессы, если в них «все хорошо»? Часть 2. Анализ и совершенствование технологического процесса